摘要
结合应用中引线式轴向塑封二极管出现漏电及击穿失效问题,对引线式轴向塑封二极管失效原因及封装结构进行深入剖析,经过对大量失效引线式轴向塑封二极管深入分析,确定失效主要原因为引线式轴向塑封二极管为单钉头引线、大晶圆结构,本身抗机械应力能力差,引线、二极管本体在加工的过程中受机械应力的作用,二极管晶圆直接受到外力冲击产生裂纹,呈现正向压降不良及反向耐压衰降,在后续的通电过程中失效进一步加深,最终击穿失效。经过从各方面进行论证对比分析,双钉头引线、小晶圆结构有很大的优势,开发新型双钉头引线、小晶圆结构提高轴向塑封二极管抗机械应力能力,有效解决了引线式轴向塑封二极管售后及过程机械应力失效问题。
出处
《电子产品世界》
2020年第9期80-82,共3页
Electronic Engineering & Product World