期刊文献+

伪随机测试激励信号设计

下载PDF
导出
摘要 模数混合电路的内建自测试(BIST)研究是近些年比较有挑战的,其中如何以较小的硬件开销获得模拟激励信号以及数据响应分析比较关键。本文将以伪随机信号作为研究对象,对BIST结构的激励模块进行设计伪随机信号,并在QuartusⅡ里进行仿真验证,为后续混合信号BIST结构设计打下基础。 The study of modular hybrid circuit built-in self-testing(BIST)is challenging in recent years,among which how to obtain analog excitation signal and data response analysis with less hardware cost is key.This article will take the pseudo random signal as the research object,the incentive of BIST structure module design pseudo random signal,and QuartusⅡsimulation verification,lay the foundation for subsequent mixed-signal BIST structure design.
出处 《数码设计》 2020年第7期76-77,共2页 Peak Data Science
关键词 BIST 测试激励 LFSR BIST Test incentives LFSR
  • 相关文献

参考文献7

二级参考文献47

  • 1袁秋香,方粮,李少青,刘蓬侠,余金山,徐长明.一种能有效降低Memory BIST功耗的方法[J].计算机研究与发展,2012,49(S1):94-98. 被引量:1
  • 2杨舟,王红,杨士元.混合信号SoC联合测试方案[J].清华大学学报(自然科学版),2011,51(S1):1381-1387. 被引量:2
  • 3陶然,越新民,林茂六.A/D转换器的动态非线性模型辨识[J].电子测量与仪器学报,1994,8(2):22-28. 被引量:2
  • 4唐玉兰,陶伟,于宗光.一种实现数模混合电路中的DAC测试的BIST结构[J].电子器件,2006,29(1):231-234. 被引量:4
  • 5雷加 刘伟.模数混合信号的可测性设计研究.仪器仪表学报,2007,28(8):926-929.
  • 6Pan C Y,Cheng K T.Pseudo-random testing and signature analysis for mixed-signal circuit[C]//Int Conf on CAD, 1995:102-107.
  • 7Pan C Y,Cheng K T.Implicit functional testing for analog[C]//Proc Int Test Conf on Circuits,Sept 1999:535-540.
  • 8Corsi F,Marzocca C.Mixed signal circuit classificatin in a pseudorandom testing scheme[J].Journal of Electronic Testing, 2002.
  • 9左振平,李立功.数字通信测量仪器[M].北京:人民邮电出版社,2007.
  • 10QIN J,STROUD C E, DAI F F. FPGA-based analog functional measurements for adaptive control in mixed-signal systems[J]. Industrial Electronics,2007, 54(4) : 1885-1997.

共引文献17

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部