期刊文献+

一种片上系统片外互连可靠性仿真技术研究 被引量:2

Research on a Reliability Simulation Technology of System-on-Chip Off-Chip Interconnect
下载PDF
导出
摘要 结合国内SoC虚拟化验证体系的现状,梳理总结出了SoC片外互连可靠性仿真流程。并选取某型SoC开展片外互连可靠性仿真分析。通过开展热学仿真、振动仿真和寿命仿真等工作,最终得出了该型SoC的可靠性仿真结果,结果分析表明,该仿真方法满足实际的应用需求。 Combined with the current status of the domestic system-on-chip virtualization verification system, the reliability simulation flow of SoC off-chip interconnection is summarized.And a SoC is selected to carry out simulation analysis of off-chip interconnect reliability.Through carrying out thermal simulation, vibration simulation, life simulation and other work, the reliability simulation results of the SoC are finally obtained. The analysis of the results shows that this simulation method meets the needs of practical applications.
作者 李欣荣 雷庭 于迪 杨云 王浩 刘瑜珂 LI Xinrong;LEI Ting;YU Di;YANG Yun;WANG Hao;LIU Yuke(CEPREI,Guangzhou 510610,China)
出处 《电子产品可靠性与环境试验》 2020年第S02期23-26,共4页 Electronic Product Reliability and Environmental Testing
关键词 片上系统 互连可靠性 仿真 system-on-chip interconnect reliability simulation
  • 相关文献

参考文献4

二级参考文献22

共引文献5

同被引文献12

引证文献2

二级引证文献10

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部