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数字电子电路测试技术分析 被引量:2

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摘要 科学技术的发展在某种程度上带动了数字电子电路技术的进步,但芯片体积的不断缩小使得电子电路设计变得愈加困难,鉴于此,有必要对数字电子电路测试技术进行优化。本文主要对当前的数字电子电路测试技术进行研究和分析。
作者 周晓芬
出处 《中国新通信》 2020年第19期59-60,共2页 China New Telecommunications
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