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数字电子电路测试技术分析
被引量:
2
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摘要
科学技术的发展在某种程度上带动了数字电子电路技术的进步,但芯片体积的不断缩小使得电子电路设计变得愈加困难,鉴于此,有必要对数字电子电路测试技术进行优化。本文主要对当前的数字电子电路测试技术进行研究和分析。
作者
周晓芬
机构地区
甘肃省广播电视学校
出处
《中国新通信》
2020年第19期59-60,共2页
China New Telecommunications
关键词
数字电子电路
测试技术
分类号
TN431.2 [电子电信—微电子学与固体电子学]
引文网络
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