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数字集成电路系统基本构成与测试技术研究 被引量:2

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摘要 本文主要讨论了数字集成电路系统的基本构成,并对数字集成电路系统的测试技术进行了研究,从功能测试、直流参数测试、交流参数测试等层面进行探讨,最终向大家阐述数字集成电路测试技术的应用,希望能够为大家带来一些参考。
作者 姜成 景克强
出处 《电子技术与软件工程》 2020年第13期83-84,共2页 ELECTRONIC TECHNOLOGY & SOFTWARE ENGINEERING
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