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数字集成电路系统基本构成与测试技术研究
被引量:
2
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摘要
本文主要讨论了数字集成电路系统的基本构成,并对数字集成电路系统的测试技术进行了研究,从功能测试、直流参数测试、交流参数测试等层面进行探讨,最终向大家阐述数字集成电路测试技术的应用,希望能够为大家带来一些参考。
作者
姜成
景克强
机构地区
陕西省西安市西安爱生技术集团公司
出处
《电子技术与软件工程》
2020年第13期83-84,共2页
ELECTRONIC TECHNOLOGY & SOFTWARE ENGINEERING
关键词
数字集成电路
功能测试
测试技术研究
技术的应用
分类号
TN431.2 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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