一种基于单片机的测试系统设计

本文介绍了一种运用STC单片机来控制继电器阵列,从而实现对多个分立器件或含有多个重复单元的小型集成电路进行测试的测试系统,文中阐述了该系统的组成结构和构建方法,并较为详细的说明了器件的参数的测试原理和测试过程,对解决类似分立器件或集成电路的测试问题解决有较为实用的意义。