氯化钴晶体中铅的测定

目前测定氯化钴晶体中的铅,采用的是ICP光谱法。此方法简便,快速,但由于氯化钴中铅含量低,钴含量高,在这种情况下,由于钴基体的干扰,导致铅的谱线不稳定,信嗓比差,灵敏度相对差,样品含量只能检测在10ppm以上,其方法的检出限受到一定的限制。随着很多客户对产品质量的要求越来越高,对于氯化钴晶体中铅含量控制在10ppm以内已经不能满足其要求,也许生产上可以实现把氯化钴晶体中的铅控制在5ppm以下,但检测方法跟不上,突破不了ICP测铅的检出限,那产品就毫无意义了。所以,若想要氯化钴中铅的含量控制在5ppm以下,则目前采用的分析方法(直接让样品上机)就不适宜了。为了这一点,我们考虑用分离富集的方法进行前处理来实现这一要求。