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LGA器件焊点缺陷分析及解决措施 被引量:7

Analysis and Solution of Solder Joint Defects for LGA Devices
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摘要 针对LGA器件回流焊后常见的空洞和锡珠等缺陷,对其产生的原因进行了分析。通过对LGA器件采用预上锡回流工艺和印制板钢网LGA器件处一字架桥开口的方式,使回流焊过程中焊膏的挥发气体加速逸出。通过对比试验,找到合适的预上锡钢网尺寸,解决了LGA器件焊接中常见的空洞大的缺陷问题。 The causes of defects such as voids and solder beading after reflow soldering of LGA devices are analyzed.Through the pre tinning reflow process and the way of bridging the opening at the LGA devices of PCB steel mesh,the escape of volatile gas during reflow soldering process is improved.Through the comparative test,the appropriate size of pre tinning mesh is found,and the defects such as large voids in LGA soldering are solved.
作者 王文龙 陈帅 谭小鹏 WANG Wenlong;CHEN Shuai;TAN Xiaopeng(The 20th Research Institute of CETC,Xi'an 710068,China)
出处 《电子工艺技术》 2021年第1期38-41,共4页 Electronics Process Technology
基金 科工局技术基础项目(JSZL2019210B007)。
关键词 LGA 空洞 锡珠 预上锡 LGA voids solder beading pre tinning
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参考文献2

二级参考文献6

共引文献7

同被引文献36

引证文献7

二级引证文献11

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