测量型工业CT系统关键技术研究与应用

工业计算机断层成像(Computed Tomography,CT)以其在非接触、无破坏的条件下对于待测物体内部结构进行高分辨率三维成像的优势成为实现全尺寸测量的有力工具。然而在实际应用中,工业CT在测量精度、可重复性、误差控制、数据采集效率等方面还有待进一步的突破与提高。为此,该项目通过深入探究X射线成像的物理机制,挖掘CT系统特性,在视野受限的情况下,数据截断、探测器响应不一致、高原子序数材质的伪影与散射校正、几何参数精度随时间劣化、退化图像的复原测量等关键问题上取得了重大的创新与突破,研究成果有效提高了CT系统在实际测量应用中的准确性、稳定性、一致性,具有巨大的经济、社会效益。