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电子产品寿命模拟中MTTF系统测算法 被引量:4

System test algorithm of MTTF in electronic product life simulation
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摘要 根据多年工作经验借鉴中外企业先进做法和相关标准,推导出经验公式,结合试验数据,计算产品的MTTF、FIT值以及年索赔率等参数,能够有效地模拟产品的生命周期以及测算出工厂的早期老化时间,为产品在大批量投产前提供可靠性的量化依据。[1]
作者 胡志山
出处 《电子产品世界》 2021年第3期53-56,共4页 Electronic Engineering & Product World
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