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TFT-LCD线类缺陷的检测及修正方法研究

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摘要 受生产环境、设备环境、生产原材料及生产工艺影响,TFT-LCD在生产流程中会出现各种类型的线不良,比如纵线、横线、按压产生的线、闪烁线、出现一次后未再出现的隐藏线等等。本文通过研究分析人、机、料、法、环各个环节,找出线缺陷产生的原因,并重点介绍了线缺陷的检测方式和修复方法。
作者 林宁
出处 《新型工业化》 2020年第8期133-134,共2页 The Journal of New Industrialization
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  • 1陈凯,丁芃.液晶面板领域的中国专利申请状况分析[J].电视技术,2013,37(S2):155-158. 被引量:3
  • 2王骞,丁铁夫.基于FPGA的液晶显示驱动IP核的实现[J].液晶与显示,2005,20(4):324-327. 被引量:15
  • 3李拥军,于涛,侯文卓,孙铁铮.液晶测试信号源的设计与实现[J].液晶与显示,2006,21(1):73-76. 被引量:10
  • 4林鸿涛,刘伟.a-Si TFT-LCD制造工艺中的ITO返修工艺研究[J].现代显示,2006(8):24-28. 被引量:2
  • 5Maxim.MAX303 datasheet[R].America:Maxim,1993.
  • 6李华 孙晓民 李红青 等.MCS-51系列单片机实用接口技术[M].北京:北京航空航天大学出版社,2001..
  • 7Fan Shu Kai S, Chuang Yu Chiang . Automatic detection of Mura defect in TFT-LCD based on regression diagnos tics [J]. Pattern Recognition Letters, 2010,31 (15) : 2397 -2404.
  • 8International Electrotechnical Commission. Liquid crystal and solid-state display devices, Part 6: Measur-Ing methods for liquid crystal modules-Transmissive type [R]. Geneva, Switzerland,2002.
  • 9Ji Huijie, Ran Feng. A mixed drive method for high gray scale TFT-LCD [J]. Proceedings of the 2009 2nd Inter- national Congress on Image and Signal Processing, 2009,21 ( 11 ) : 22-25.
  • 10唐惠玲,刘汉瑞,刘志军.一种TFTLCD可编程综合性能电测仪:中国,ZL200920052079.7[P].2010-05-26.

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