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FPGA内部逻辑单元的内建自测试方法研究 被引量:2

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摘要 本文针对FPGA内部的可编程逻辑资源测试问题,阐述了基于扫描链的FPGA内部逻辑单元的内建自测试方法.研究了该方法在构建过程中应注意的事项,以及故障定位方法等,能够实现FPGA内部的逻辑资源遍历测试,具有简单易行、高效、低成本的优点。
作者 吴蓬勃 WU Peng-bo
出处 《信息技术与信息化》 2021年第2期143-144,共2页 Information Technology and Informatization
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参考文献3

二级参考文献20

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共引文献9

同被引文献16

引证文献2

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