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微动开关接触可靠性提升工艺创新实践

Innovative Practice of Improving Contact Reliability of Micro-switch

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摘要逻辑通断不合格是影响PDU的主要原因,而微动开关的可靠性是逻辑通断不合格的主要原因,对此进行了分析、研究,提出了改进方案,并进行了闭环验证。

作者李晋川汪净 LI Jin-chuan;WANG Jing

机构地区四川华丰科技股份有限公司

出处《机电元件》 2021年第2期29-31,共3页 Electromechanical Components

关键词微动开关接触可靠性

分类号 TN784 [电子电信—电路与系统]

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机电元件

2021年第2期

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