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论晶圆制造过程中离子注入机掉片问题及改善
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摘要
由于美国对我国进行芯片技术封锁,国家对芯片研发制造大力支持,随着我国芯片制造业得到蓬勃发展,芯片制造过程中问题频发。离子注入在芯片制造过程中属于重要一环,本文主要针对晶圆制造过程GSD200型号离子注入机掉片的问题进行分析并汇总改善措施,以此来提高晶圆生产成品的合格率。
作者
李福松
机构地区
中芯集成(绍兴)有限公司
出处
《数码设计》
2021年第12期236-237,共2页
Peak Data Science
关键词
晶圆制造
离子注入
晶圆掉片
芯片制造
分类号
TN305 [电子电信—物理电子学]
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