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收发多功能芯片长寿命评价方法研究

Research on long life evaluation method of transceiver multifunctional chip
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摘要 在分析收发多功能芯片失效模式和失效机理的基础上,通过试验研究,提出包括样品筛选、抽样与组装、试验温度、试验时间、失效判据等内容的收发多功能芯片长寿命评价试验方法。
作者 周俊 刘芳 Zhou Jun;Liu Fang
出处 《质量与认证》 2021年第2期61-63,共3页
基金 国家科技重大专项项目“核心电子器件标准技术研究(2017ZX01013101-007)”支持。
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