勘误声明

电子元件与材料杂志社在此声明:对在《电子元件与材料》上发表的论文《硫酸对铝箔交流腐蚀影响机理的研究》(作者:吕根品,闫小宇,方铭清,黄宏亮,肖远龙,2021年40卷4期,页码为344-349,DOI:10.14106/j.cnki.1001-2028.2021.1728)印刷版进行勘误。