摘要
2021年6月1日,记者从中国科学技术大学获悉,该校中科院量子信息重点实验室郭国平、曹刚教授等与本源量子合作,在微波谐振腔——半导体量子芯片耦合研究中取得重要进展。他们利用微波谐振腔探测到了半导体量子点受微波驱动调制的干涉新现象。相关研究成果近期发表在国际知名期刊《物理评论B》上。此次研究中,研究团队发现半导体量子点由于具有良好的集成性和扩展性、与传统半导体制造工艺兼容等众多优点,是目前量子计算的重要研究平台之一。
出处
《电子产品可靠性与环境试验》
2021年第3期52-52,共1页
Electronic Product Reliability and Environmental Testing