期刊文献+

镀覆孔内镀铜异常原因分析与改善

Research on the causes of electrodeposition fail in plating through-hole
下载PDF
导出
摘要 文章针对PCB图形电镀工序二次铜电镀出现的通孔孔内铜异常,通过对各种影响因素的对比试验,得出了产生通孔电镀铜异常的影响因素,为二次铜电镀过程中出现的通孔镀铜异常提供改善和预防措施。 By analysis of the causes of during pattern platting,and by comparative tests,the paper verified the real causes of electrodeposition fail in through-hole.The improvement and preventive measure are given accordingly.
作者 谢慈育 宗高亮 王扩军 李得志 冉光武 Xie Ciyu;Zong Gaoliang;Wang Kuojun;Li Dezhi;Ran Guangwu
出处 《印制电路信息》 2021年第11期31-34,共4页 Printed Circuit Information
关键词 图形电镀 二次镀铜 镀铜异常 Pattern Platting Copper Platting Fail-Electrodeposition Through-Hole

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部