多路电子开关AD8184功能测试装置设计

为了满足多路电子开关AD8184功能测试的需要,设计了芯片AD8184测试装置,方案是将信号产生电路与其他功能电路设计在一起,组成一个测试装置。由于自带信号产生电路和通道显示电路,可以节省信号发生器等昂贵设备,节约测试成本,同时“可视化操作”设计也提高了测试效率。