交叉性小脑失联络的发病机制及影像研究进展

Research progress on pathogenesis and imaging of crossed cerebellar diaschisis

交叉性小脑失联络又称为交叉性小脑神经机能联系不能(crossed cerebellar diaschisis,CCD),是指各种中枢神经系统原因(如脑梗死、脑出血、脑外伤、脑内肿瘤、烟雾病、脑炎、癫痫等)导致幕上脑组织神经元损伤后,继发对侧小脑半球血流量及代谢率降低的现象[1],其中缺血性脑梗死是诱发CCD现象发生率最高的原因[2~4]。BARON等[5]首先提出CCD这个概念,描述了远离但与大脑缺血区域相关的小脑障碍,并率先提出交叉性小脑代谢抑制导致CCD的机制。随着早期Baron等采用正电子发射断层成像技术(positron emission tomography,PET)描述CCD现象,许多学者陆续采用单光子发射型计算机断层显像(single photon emission computed tomography,SPECT)、CT和MRI等多种影像技术研究CCD现象,CCD现象得到了证实,使人们全面认识了CCD现象。由于CCD临床症状没有特异性,在临床上往往容易被忽略,而CCD的发生可直接影响临床预后,故深入了解CCD现象对临床治疗、功能康复起到一定的辅助作用。现对CCD的发病机制、影像检查方法等予以综述。