半导体三极管的失效分析与可靠性研究

Failure analysis and reliability research of semiconductor transistor

三极管在电路中主要起放大和开关作用,产品在实际应用中失效多单,经分析主要故障为短路与开路失效。通过X光、CT扫描、开封等方法分析研究,发现此故障为焊接不良、塌丝导致。对全流程包含设备的生产环节进行整改,并通过优化检测方法、增加显微镜检查以及X光全检等检测设备,提高产品可靠性。