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2020 IEEE EMC & SIPI虚拟会议——提名文章(六)

2020 IEEE EMC & SIPI Integrity Virtual Symposium——Nominated Paper Part 6
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摘要 Resistance Modeling for Striplines with Different Surface Roughness on the Planes摘要:人们提出了各种模型来模拟箔表面粗糙度引起的附加导体损耗,以便在假设箔导体具有一定粗糙度的情况下,为单位长度(PUL)电阻提供表面粗糙度修正系数。由于印制电路板上带状线制造工艺的不同,迹线和参考面的不同侧面具有不同的表面粗糙度。
出处 《安全与电磁兼容》 2022年第1期95-99,共5页 Safety & EMC
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