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光电耦合器(OCEP)早期故障的可靠性研究及应用

Reliability research and application of early failure of Optocoupler(OCEP)
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摘要 通过对大量失效光耦分析研究,失效现象集中在早期,问题统一。结合光耦失效样品的失效现象、失效原理、及失效机理分析,从金线绑定异常、内部残留金属异物、漏打胶、晶片污染方面研究光耦的可靠性,发现主要失效是早期产品加工存在异常缺陷导致,产品在投入使用后短期内反馈异常。通过对制程的优化改进,如提升自动化制造、检测能力,不断优化改进制程,提升光耦制造流程可靠性,保证产品可靠性。
出处 《电子产品世界》 2022年第2期70-76,共7页 Electronic Engineering & Product World
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