TOFD检测技术中扫查方式与检测盲区的关系

The Relationship Between Scanning Mode and Detection Blind Area in TOFD Detection Technology

对同一标准试块,采用TOFD不同方式扫查,然后对结果进行分析,从而确定扫查方式与检测盲区的关系。结果显示,偏置非平行扫查对于直通波盲区和轴偏离底面盲区有着较好的作用,而相对的非平行扫查在检测近表面缺陷时,受这两种盲区的影响较大;另一方面,平行扫查由于其扫查范围小,扫查精度较高,一般用来对缺陷的精确定位分析。因此,在实际应用中可以通过灵活应用不同的扫查方式或者不同扫查方式之间的配合来提高缺陷检出率。