化学地层学成为层序地层学研究的有效工具

化学地层学是利用岩层中化学元素及其化合物的演变规律和含量分布特征进行地层划分与对比,进而推断地层形成时地球化学环境的一门地层学分支。20世纪60年代,为了解决在复杂地质条件下利用岩性地层、测井、生物地层和地震资料开展油田及储层尺度地层对比时存在的可靠性问题,业界尝试了多种技术手段,包括磁性地层学、重矿物地层学、粘土矿物地层学以及结合了元素化学地层学的全岩地球化学等研究手段。到了90年代,鉴于化学地层学是生物地层学很好的补充,多家大型石油公司开始将化学地层学分析工具应用于地层研究,并推动了其发展。化学地层学较常用的技术手段包括电感耦合等离子体质谱仪(ICP−MS)、波长色散型X射线荧光光谱仪(WD−XRF)、能量色散型X射线荧光仪等。这些测量仪器能够对小尺寸样本中多达50种以上的元素同时进行精准测量。化学地层学分析技术应用所面临的最大挑战是如何根据研究目的和条件从众多的数据中选择兼具指示性和成本优势的数据,而对速度快且成本低的高品质化学地层学数据采集的需求促使人们开发出了更多的便携式扫描工具。