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Erratum to “Accurate determination of film thickness by low-angle x-ray reflection”

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摘要 Equation(6)in Chin.Phys.090833(2000)is corrected.All subsequent derivations were given based on the correct Eq.(6),so the conclusions in the paper are not ffected by the rrata.
作者 徐明 杨涛 于文学 杨宁 刘翠秀 麦振洪 赖武彦 陶琨 Ming Xu;Tao Yang;Wenxue Yu;Ning Yang;Cuixiu Liu;Zhenhong Mai;Wuyan Lai;Kun Tao(Institute of Physics&Center for Condensed Matter Physics,Chinese Academy of Sciences,Bejing 100080,China;Department of Materials Science Jilin Universiy,Changchun 130023,China;Department of Materials Science,Tsinghua University Beijing 100083,China)
出处 《Chinese Physics B》 SCIE EI CAS CSCD 2022年第9期658-658,共1页 中国物理B(英文版)
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