计量前沿速递

国际1.新的计量技术使用应力进行纳米断层扫描来自斯科尔科沃科学技术研究所(Skoltech)的研究人员及其在俄罗斯和西班牙的同事展示了一种新的辐射安全方法的概念验证,该方法用于绘制纳米尺度材料样品的内部结构和应力分布图,并使用分辨率比目前可用的×射线和,中子断层扫描技术高约100倍。该团队认为,其3D应力纳米断层扫描最终可能成为纳米技术的标准计量技术。