通过HAST快速模拟PCB基板老化插损波动性能

老化插损波动是评估PCB基板老化后传输线上信号完整性的重要指标。本文对不同吸水率的CCL、PCB基板进行了长时间烘烤、HAST加速老化、高温高湿、帯温老化等不同条件的处理,并对其Dk、Df、插入损耗变化进行了分析研究。