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基于机器视觉的半导体芯片封装外观检测

Appearance Inspection of Semiconductor Chip Package Based on Machine Vision
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摘要 随着工业技术的进步,基于机器视觉的半导体芯片封装外观检测变得越来越先进和智能化。对其生产过程进行规范,有利于提高效率和质量。文章主要论述了基于机器视觉的半导体芯片封装的基本技术,对机器视觉的半导体芯片封装外观检测进行了具体的论述,最终提升机器视觉的半导体芯片封装的可靠性与耐用性。 With the advancement of industrial technology,the appearance inspection of semiconductor chip packaging by machine vision has become more and more advanced and intelligent.Standardizing its production process is conducive to improving efficiency and quality.This article discusses the basic technology of machine vision semiconductor chip packaging.In this regard,the article specifically discusses the appearance inspection of machine vision semiconductor chip packaging,and ultimately improves the reliability and durability of machine vision semiconductor chip packaging.
作者 胡鸿 陈名正 马腾江 陈华 Hu Hong;Chen Ming-zheng;Ma Teng-jiang;Chen Hua
出处 《今日自动化》 2022年第9期44-46,共3页 Automation Today
关键词 机器视觉 半导体芯片封装 外观检测 machine vision semiconductor chip packaging appearance inspection
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