摘要
本文借助EBSD扫描电镜和TEM透射电镜,主要研究了不同电流密度和不同冷却速率对双相H62黄铜升温相变初期孪晶的影响,揭示了冷却速率与电流密度对H62双相黄铜升温相变初期的孪晶影响。通过研究不同脉冲电流密度(j_(max)=17.9 kAmm^(-2)和j_(max)=18.5 kAmm^(-2))对H62双相黄铜相转变初期微观结构的影响,结果发现电流密度对位错的影响研究表明,随着脉冲电流密度的升高,位错含量减少。脉冲电流处理时,冷却速率越快,形变孪晶含量越多,然后形变孪晶随着温度的升高瞬间消失。
出处
《信息记录材料》
2022年第11期52-55,共4页
Information Recording Materials