期刊文献+

探针台“四芯”测试算法应用研究

Research on Application of “Four Sites” Test Algorithm in Probe System
下载PDF
导出
摘要 介绍了探针测试的现状,基于探针设备的硬件结构,探索设计一种“四芯”测试算法,达到提高测试效率的目标。实验结果表明了“四芯”测试算法的可行性及有效性。 The current situation of probe testing is introduced in this paper. Based on the hardware structure of probe system,designed the corresponding “Four Sites”algorithm test flow,the goal of improving production efficiency is realized. Experimental results show the feasibility and effectiveness of the optimization algorithm.
作者 胡晓霞 李猛 方敏晰 温建军 HU Xiaoxia;LI Meng;FANG Minxi;WEN Jianjun(The 45^(th) Research Institute of CETC,Beijing 100176,China;Sanhe Wuatech Co.,Ltd.,Yanjiao 065201,China)
出处 《电子工业专用设备》 2022年第6期49-52,66,共5页 Equipment for Electronic Products Manufacturing
关键词 探针台 “四芯”测试 晶圆测试 Probe system “Four Sites”testing Wafer probe
  • 相关文献

参考文献3

二级参考文献17

共引文献87

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部