期刊文献+

X射线荧光光谱关于分析数据异常的软故障处理

Soft fault handling for abnormal analysis data in X-ray fluorescence spectrometer
下载PDF
导出
摘要 荧光光谱仪作为本检测中心的核心检测设备,一旦出现故障将严重影响检测中心的检测效率,本文将结合检测中心的1#荧光光谱仪关于分析数据异常的软故障处理步骤来进行详细阐述,以供同行参考。 As the core detection equipment of the detection center,the failure of the fluorescence spectrometer seriously affects the efficiency of the detection center.This paper describes in detail the soft fault handling steps for analyzing abnormal data of the 1#fluorescence spectrometer of the detection center for peer reference.
作者 张勇 张弛 宋文超 章发 王春燕 Zhang Yong;Zhang Chi;Song Wenchao;Zhang Fa;Wang Chunyan(Wuhu Xinxing Ductile Iron Pipes Co.,Ltd.,Wuhu 241000,China)
出处 《分析仪器》 CAS 2023年第2期109-112,共4页 Analytical Instrumentation
关键词 荧光光谱仪 数据异常 软故障处理 Fluorescence spectrum Abnormal data Soft fault handli ng
  • 相关文献

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部