摘要
传统化学分析法在分析有害元素方面存在破坏首饰、周期长、操作繁琐、试剂消耗量大和污染环境等问题,而现在有一种快速的无损检测方法即X射线荧光光谱法。本文从黄金首饰中引入有害元素的原因出发,通过采用ED-XRF(能量色散型X射线荧光光谱仪)分析黄金首饰中的Pb、Hg、Cd、Cr、As这5种典型的有害元素的荧光谱图,,研究测试过程中的基体干扰因素和特征峰识别方法,探讨采用ED-XRF对有害元素进行快速、准确与可靠的定性分析对策。
作者
王燕
何婷
黄佳南
WANG Yan;HE Ting;HUANG Jia-Nan
出处
《中国检验检测》
2023年第2期27-30,共4页
China Inspection Body & Laboratory