存储器故障测试算法分析与研究

存储器应用广泛,使用量大,发展迅速,随着近年来存储芯片容量不断增大,故障检测难度与成本也逐渐上升。从存储器的故障模型和测试技术出发,对比分析了不同测试算法的特点,以便在实际检测中选择合理的测试算法,同时提出了一种改进型的测试算法,在基本不改变测试时间长度的情况下增加了故障检测类型,是一种简单可行的方法。