相对磁场方向测量磁力显微镜

Rotatable Magnetic Force Microscope Operated in High Field Magnet Prb3D-MFMrotSs1C

主要技术与性能指标,分辨率:MFM具备50 nm磁结构分辨,附带AFM功能可实现原子(台阶)分辨,温度:设备适用于5-300 K(由适配磁体提供),采用压电旋转马达驱动,角度精度:≥0.01°,适用孔径50 mm以上磁体,样品在磁场中进行0°-90°转角度测量。