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RC IGBT通态压降折回现象改善的研究

Study on Improvement of RC IGBT Vcesat Snap Back Phenomenon
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摘要 阐述RC IGBT是新一代的IGBT结构,可以将快速恢复二极管同时集成在IGBT芯片中。探讨P型引导区方案,结合对N集电区注入面积和剂量的优化,可以有效改善RC IGBT的通态压降折回问题。 This paper analyses that RC IGBT is novel generation and integrates with FRD,and disposes P type pilot area experiment and succeed to get improvement snapback result.
作者 杨继业 潘嘉 YANG Jiye;PAN Jia(Shanghai Huahong Grace Semiconductor Manufacturing Corporation,Shanghai 201203,China)
出处 《集成电路应用》 2023年第6期4-5,共2页 Application of IC
关键词 IGBT RC IGBT 快速恢复二极管 通态压降折回 IGBT RC IGBT fast recovery diode snapback

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