基于MST-GAN的多尺度IC金属封装表面缺陷检测

MST-GAN-Based Multi-Scale Surface Defect Inspection of IC Metal Packages

随着集成电路产业的快速发展,IC尺寸越来越小,其生产制造工艺也越来越复杂,因此IC封装存在缺陷的概率也大大增加。在IC封装的生产制造过程中,IC金属封装的表面可能会出现一些缺陷,如划痕、污渍和气泡等,对IC的可靠性和使用寿命构成了潜在的威胁。