平板导体深层缺陷定量检测仿真研究

Simulation study on quantitative detection of deep defects in flat conductor

传统涡流传感器由于涡流的集肤效应以及检测中自身激励的干扰,难以测量导体深层缺陷信息,为了提高涡流传感器的检测能力,设计了矩形线圈模型,并改变了线圈模型的方位,可以有效的克服涡流的集肤效应,获取深层缺陷的信息。并采用数理统计方法对定量检测方法进行了研究,得出了缺陷深度与信号幅值之间的数学规律,经过验证,可以较为准确地对缺陷进行定量检测。