某型导引头钽电容失效原因分析

Analysis on Failure Reason of Tantalum Capacitorfor a Seeker

针对某型红外成像导引头修理过程中多枚产品出现随动稳定控制电路相同位置钽电容失效,导致红外热像仪不受控问题展开原因分析。通过电特性测试、化学开封、X射线检查、浪涌电流试验验证等分析方法找出了器件失效的真正原因,并制定了相应的预防措施。