期刊文献+

电子元器件的可靠性筛选研究 被引量:1

Research on Reliability Screening of Electronic Components
下载PDF
导出
摘要 针对电子元器件应用过程中常见故障频发的缺陷,分析了电子元器件的选型项目和选型应力。紧紧围绕电子元器件的稳定性,对一些常见的选型项目,提出了典型的选型规划方案。最后以二极管为研究对象,分析了电子器件筛选程序。 Aiming at the defects of frequent common failures in the application process of electronic components,the selection items and selection stresses of electronic components are analyzed.Focusing on the stability of electronic components,the typical selection plan is proposed for some common screening items.Finally,taking diode as the research object,the screening program of electronic components is analyzed.
作者 孔德昊 KONG Dehao(CEPREI-EAST,Suzhou 215011,China)
出处 《电子产品可靠性与环境试验》 2023年第5期43-46,共4页 Electronic Product Reliability and Environmental Testing
关键词 电子元器件 可靠性 二极管 筛选 electronic components reliability diodes screening
  • 相关文献

参考文献7

二级参考文献24

共引文献36

同被引文献7

引证文献1

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部