浅谈相位相干成像(PCI)技术的优劣

相位相干成像(PCI)是2009年提出的一项技术,用以提高超声检测图像的分辨率和对比度。该方法基于相控阵超声检测探头各晶片检测信号间相位相干性的评价。PCI图像的强度取决于缺陷的性质,对于体积型缺陷,如孔隙、夹渣或尖端衍射其信号显示强度较高,这是由于在全矩阵捕获(FMC)时,其信号相位方向大致相同。当被检工件结构或缺陷有很强的方向性(如表面、底面、分层、未熔合等),其PCI图像信号强度较低。由此可知,PCI有助于检测体积型缺陷(气孔和夹渣),并能识别裂纹尖端的衍射信号,可更好地测量缺陷尺寸。