基于OST的3D SoC绑定中测试时间优化方法

针对硬晶片构成的3D SoC绑定中测试时间问题,提出了考虑测试引脚约束的最优搜索理论(OST)测试时间优化算法。选用ITC02测试基准电路中的5种典型电路,在基于蛮力法求解出来的所有堆叠方式中,抽取金字塔、菱形和倒金字塔结构的3D SoC,采用OST算法进行实验。结果表明,与已有算法相比,提出的OST算法显著缩短了绑定中的总测试时间;测试引脚一定时,与金字塔和菱形结构的3D SoC相比,倒金字塔3D SoC绑定中总测试时间最小。