应用X射线荧光光谱法测定常见金属基体中合金组分

本文应用X射线荧光光谱法制作通用工作曲线,测定铜、铁、铝、镍和钛基体金属中多种主要合金元素的含量,通过优选干扰小的谱峰、结合数学公式校正,降低了重叠干扰;并采用变化的理论α系数法校正了多金属基体条件下的基体效应影响。该方法分析了包括铜、铁、铝、镍和钛基材料在内的5个标准样品,测定值与认定值相符,测定值的相对标准偏差(n=7)在0.28%~24.2%之间。