摘要
在现代电子产品的制造和设计过程中,元器件的可靠性和使用寿命是至关重要的因素。为了评估元器件在极端条件下的表现,高温老化工艺成为一种重要的测试手段。因此,本文探讨了高温老化工艺在电子元器件老化测试工作中的应用。旨在通过对电子元器件在高温环境中的性能变化以及可靠性退化进行模拟,帮助制造商评估产品的寿命、性能和适应性。在文章中,实验测试记录了性能参数的变化、失效率分析、老化曲线和性能稳定性评估的实验结果,以展示高温老化工艺在测试中的重要作用。
出处
《电子制作》
2024年第4期109-111,共3页
Practical Electronics