光电转塔整流罩裂纹原因分析及改进设计

Cause Analysis and Improvement Design of Crack in the Fairing of Photoelectric Turret

光电转塔整流罩多架次频发裂纹已严重影响了飞机的完好率。本文采用故障树分析法,从来料、制造、设计等多维度对裂纹原因进行分析,确定裂纹原因是整流罩动强度不足,通过增加连接件数量、增加连接角材等措施对整流罩进行设计改进。计算验证结果表明,改进方案可有效提高整流罩寿命,解决整流罩裂纹问题。