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多种类型地质样品中主要和次要元素的X-射线荧光光谱测定 被引量:9

XRF Determination of Major and Minor Elements in Geological Samples
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摘要 X射线荧光光谱法(XRF)是地质样品中主要,次要组分分析的有力手段。地质样品种类很多,来源不同,各元素含量范围变化大,为了充分发挥仪器的效能,提高方法的适应性,有必要制定一个能适应于多种类型样品分析的方法。 A method for the determination of Na_(2)O,MgO,Al_(2)O_(3),SiO_(2),P_(2)O_(5),K_(2)O,CaO,TiO_(2),Cr_(2)O_(3),MnO and TFe_(2)O_(3) was described.The sample was fused with Li_(2)B_(4)O_(7) to form a highly smooth glass disc.The inter-element effect was corrected by using Lachcena Equation and theoreticalα-coefficient methods.The accuracy and the precision of the method meet the requirements for the analysis of geological samples.
作者 苏幼銮 王毅民 Su Youluan;Wang Yimin
出处 《岩矿测试》 CAS 1988年第2期112-114,I0005,共4页 Rock and Mineral Analysis
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同被引文献552

引证文献9

二级引证文献127

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