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黑钨精矿中二氧化硅的X射线荧光光谱分析 被引量:1

Determination of SiO_(2) in Wolframite Concentrates by XRF
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摘要 本文采用粉末压片方法,以硼酸镶边垫底,将黑钨精矿粉末样品直接加压成型,用赛璐珞-丙酮溶液封固表面,然后上机测定。标准系列与样品的基体成份相近,以消除基体效应,分析二氧化硅的含量范围为0.1—10%,相对标准偏差约2%,分析精度能满足选矿流程要求。 A pressed powder pellet with boric acid backing was used, 0.1-10% SiO_(2) can be easily determined with a RSD of 2%.
作者 钟道国 许春才 王子箴 Zhong Daoguo;Xu Chuncai;Wang Zizhen
出处 《岩矿测试》 CAS 1988年第2期148-148,I0013,共2页 Rock and Mineral Analysis
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