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X-射线荧光光谱分析地质化探样中主要和痕量元素 被引量:2

X-Ray Fluorescence Spectrometric Determination of Major and Trace Elements in Geochmical Samples
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摘要 岩石化探样中主要和痕量元素的测定,目前多半以ICP或XRF法为主,二种测试手段各有优势。本文应用8680X-射线光谱仪测定氧化镁,氧化铝,氧化硅,磷,氧化钾,氧化钙,氧化铁,氧化钠,钛,锰,锌,钒,铬,铷,铌,钇,锶,锆等元素。8680型系顺序/多道复合式X-射线光谱仪。试验证明,本方法简易、快速,结果满意。方法的变动系数最大为14.24%(Nb=15ppm),最小为0.01%(SiO=77.27%)。 A method for determining major and trace elements (Mg, Al, Si, P, K, Ca, Ti, Mn, V, Cr, Na, Fe, Zn, Zr, Nb, Rb, Y, and Sr) by the use of 8680 XRF SIM/SEQ was described. Problems concerning the analytical conditions, sample preparation, matrix correction, etc., were discussed. Satisfactory results were obtained.
作者 翟秋福 Zhai Qiufu
出处 《岩矿测试》 CAS 1987年第2期113-115,I0006,共4页 Rock and Mineral Analysis
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