电子元器件低频电噪声缺陷检测技术研究

针对现有方法忽视了微弱的噪声缺陷信号、降低了低频电噪声缺陷检测准确性的问题,该文提出一种新型电子元器件低频电噪声缺陷检测技术。首先,完成低频电噪声放大和采集工作,其次,提取电子元器件低频电噪声基本参量,将电子元器件的相关参量提取出来,拟合为噪声频谱及时间信号。最后,检测电子元器件内部散粒噪声,分析电子元器件电阻中导电不连续微粒的电流信号,得到晶体管内的热噪声、白噪声特性,使电子元器件的噪声缺陷检测更全面。利用试验证明所提技术的先进性,试验结果表明,所提技术噪声缺陷检测准确性更高,能够应用于实际生活中。