氧化锂减少正畸诱导牙根吸收风险的研究进展

正畸诱导性牙根吸收(OIRR)是正畸牙齿移动(OTM)过程中并发症的一种,表现为牙骨质、牙本质等牙体组织的破坏,主要由正畸力诱导的无菌性炎症引起,其过程由多种细胞及相关分子进行复杂介入及调控。有研究报告称绝大多数的牙齿在正畸移动后会发生牙根吸收,其中严重牙根吸收的发生率为14.8%,这甚至成为正畸治疗失败的直接诱因[1-2]。